ISO12233标准分辨率测试卡结构结构

 

分辨率测试卡的射线吸收体材料用铅箔或者与铅当量相当的金属箔。

铅质栅条与线对

在一定宽度内，均匀地排列着若干条宽度相等、长度为20mm、厚度为0.05～0.1mm的铅箔栅条，栅条的间距等于栅条的宽度。一条栅条和与它相邻的一个间距构成一个线对，线对用LP表示。铅箔栅条采用激光技术（或其它技术）刻制而成。

 

在一定宽度内，均匀地排列着若干组线对组，相邻两组的距离为3mm；若干组线对数按一定则（等比数列或等差数列）顺序排列，各组线对的栅条紧夹在两块厚度为1mm的有机玻璃板之间，如下图所示。线对组成及图形分布结构按标准的规定。

平行式分辨率测试卡的结构

分辨率测试卡的测试原理

将分辨率测试卡紧贴在工件上（或胶片暗袋或）离射线源较近一侧的表面上，按照一定的工艺条件进行透照，经暗室处理后在底片上能够观察到几组黑白相间的栅条影象，其中观察到栅条刚好分离的一组线对，则该组线对所对应的线对数即为底片（或照相系统）的分辩率。

将分辨率测试卡紧贴在工件上离射线源较近一侧的表面上（或图象增强器输入屏表面中心区域），按照一定的工艺条件进行透照，在显示器上能够观察到几组黑白相间的栅条影象，其中观察到栅条刚好分离的一组线对，则该组线对所对应的线对数即为图像（或成像系统）的分辩率。